兆歐、DAR 和 PI 測試中涉及的電流

　兆歐、DAR 和 PI 測試中涉及的電流

　　1、I C – 電容性：電容性浪涌電流通過充電將電機中的電勢提高到測試電壓。該電流迅速下降并在達到測試電壓后的幾秒鐘內達到零。對于具有高電容的大型電機，浪涌電流很高。總泄漏電流故障限值必須設置得足夠高，以避免在測試的初始階段觸發限值。

　　2、I A – 吸收：吸收電流使絕緣極化。在隨機繞線電機中，該電流也會在 30 秒到 1 分鐘內變為零或非常接近零。由于匝間使用了絕緣層，繞線電機需要更長的時間。吸收電流隨時間的變化用于計算絕緣電阻測試中的PI 和 DAR比率。

　　3、I G – 電導：電導電流通過大部分絕緣體在銅導體和地之間流動。如果電機是新的或未損壞的，該電流通常為零。隨著電機絕緣老化和破裂或損壞，電導電流可能會根據所施加的測試電壓流動。電導電流趨于隨著電壓的增加而加速。該電流有時被稱為漏電流或作為漏電流的一部分。

　　4、I L – 表面漏電流：根據 IEEE 43，表面漏電流是在繞組表面的污垢中流向接地的電流。在其他標準中稱為表面傳導電流。較臟的電機具有較高的漏電流和較低的兆歐結果。在末端繞組上帶有應力控制涂層的電機上，表面漏電流可能會增加。使用隨機繞線電機 1 分鐘或使用模繞電機 5-10 分鐘后，表面泄漏電流通常是剩余的電流，除非絕緣薄弱或損壞。

　　5、I T – Total：總電流是 4 個電流的總和。電機和絕緣測試儀測量總電流。總電流等于或非常接近絕緣電阻測試結束時的表面漏電流。這使操作員可以很好地衡量電機的臟污程度。它還提醒操作員注意從繞組到接地可能發生的災難性連接。